掃瞄瞬檢量測儀

商品名稱:

掃瞄瞬檢量測儀

規格介紹:

量測範圍：300×260～750×740mm ※提供客製服務

解析度：0.001、0.0001、0.00001mm

型錄下載：HITEC

詳細介紹:

CZW掃描瞬檢量測機為當今最先進的光學影像掃描量測系統，結合了高精度與高效率、用以替代傳統影像量測設備。